Trichlorosilane for silicon epitaxial
国家标准《硅外延用三氯氢硅》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为国家标准化管理委员会。
主要起草单位 中锗科技有限公司 、南京国盛电子有限公司 、南京中锗科技股份有限公司 。
主要起草人 赵立奎 、张莉萍 、谭卫东 、金龙 、刘新军 、郑华荣 。
YS/T 1059-2015 硅外延用三氯氢硅中总碳的测定 气相色谱法
20162492-T-469 硅外延片
GB/T 14139-2009 硅外延片
YS/T 1060-2015 硅外延用三氯氢硅中其他氯硅烷含量的测定 气相色谱法
GB/T 35310-2017 200mm硅外延片
GB/T 14142-2017 硅外延层晶体完整性检验方法 腐蚀法
GB/T 14146-2009 硅外延层载流子浓度测定 汞探针电容-电压法
YS/T 15-2015 硅外延层和扩散层厚度测定 磨角染色法
SJ/T 10481-1994 硅外延层电阻率的面接触三探针方法
YS/T 23-2016 硅外延层厚度测定 堆垛层错尺寸法