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微机电系统(MEMS)技术 基于拉曼光谱法的微结构表面应力测试方法

Micro-electromechanical system technology—Measuring method of microstructure surface stress based on Raman spectroscopy

国家标准 推荐性 现行

国家标准《微机电系统(MEMS)技术 基于拉曼光谱法的微结构表面应力测试方法》由TC336(全国微机电技术标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为国家标准化管理委员会。

主要起草单位 中北大学中机生产力促进中心

主要起草人 石云波唐军程红兵崔建功李海斌朱悦

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