Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 13: Salt atmosphere
国家标准计划《半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分:盐雾》由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为工业和信息化部(电子)。
主要起草单位 中国电子科技集团公司第十三研究所 、北京大学微电子研究院 、无锡必创传感科技有限公司 。
主要起草人 张艳杰 、彭浩 、李树杰 、岳振鹏 、崔波 、高金环 、裴选 、张天福 、迟雷 、张威 、陈得民 、周刚 。
本标准等同采用IEC国际标准:IEC 60749-13:2002。
采标中文名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分:盐雾。