半导体器件机械和气候试验方法第12部分:扫频振动

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 12: Vibration, variable frequency

国家标准计划制订推荐性

国家标准计划《半导体器件机械和气候试验方法第12部分:扫频振动》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位中国电子科技集团公司第十三研究所。

主要起草人迟雷、彭浩、岳振鹏、李树杰、崔波、高金环、裴选、张艳杰。

本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60749-12:2002。

采标中文名称:半导体器件机械和气候试验方法第12部分:扫频振动。