Surface chemical analysis - Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy - determination of lateral resolution, analysis area, and sample area viewed by the analyser
国家标准《表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率、分析面积和分析器所能检测到的样品面积的测定》由TC38(全国微束分析标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为国家标准化管理委员会。
主要起草单位 厦门爱劳德光电有限公司 、清华大学化学系 、中国科学院化学所 。
主要起草人 王水菊 、岑丹霞 、姚文清 、李展平 、刘芬 。