登录道客巴巴

表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率、分析面积和分析器所能检测到的样品面积的测定

Surface chemical analysis - Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy - determination of lateral resolution, analysis area, and sample area viewed by the analyser

国家标准 推荐性 现行

国家标准《表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率、分析面积和分析器所能检测到的样品面积的测定》由TC38(全国微束分析标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为国家标准化管理委员会。

主要起草单位 厦门爱劳德光电有限公司清华大学化学系中国科学院化学所

主要起草人 王水菊岑丹霞姚文清李展平刘芬

目录

关注我们

关注微信公众号