登录道客巴巴
高级检索

表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率测定

Surface chemical analysis － Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy － Determination of lateral resolution

国家标准 推荐性 现行

国家标准《表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率测定》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为国家标准化管理委员会。

主要起草单位 上海市计量测试技术研究院 、纳米技术及应用国家工程研究中心 。

主要起草人 徐建 、陆敏 、吴立敏 、朱丽娜 、辛立辉 、何丹农 、张冰 。

目录

1标准状态

  • 发布于2012-07-31
  • 执行于2013-02-01
  • 废止于

2基础信息

标准号
GB/T 28632-2012
发布日期
2012-07-31
实施日期
2013-02-01
中国标准分类号
G04
国际标准分类号
71.040.40
归口单位
全国微束分析标准化技术委员会
执行单位
全国微束分析标准化技术委员会
主管部门
国家标准化管理委员会

3起草单位

4起草人

徐建 陆敏 辛立辉 何丹农 吴立敏 朱丽娜 张冰

5相近标准（计划）

关于我们

帮助中心

关注我们

关注微信公众号