表面化学分析 X射线光电子能谱 薄膜分析结果的报告
Surface chemical analysis—X-ray photoelectron spectroscopy—Reporting of results of thin-film analysis
国家标准计划《表面化学分析 X射线光电子能谱 薄膜分析结果的报告》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口上报，TC38SC2（全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分会）执行，主管部门为国家标准化管理委员会。
主要起草单位 厦门荷清教育咨询有限公司 、清华大学化学系 。
主要起草人 汤丁亮 、李展平 、岑丹霞 、姚文清 、刘芬 、王水菊 。
目录
1项目进度
- 网上公示
- 起草
- 征求意见
- 审查
- 批准
- 发布
2基础信息
- 计划号
- 20151802-T-469
- 制修订
- 制订
- 标准号
- GB/T 36401-2018
- 项目周期
- 24个月
- 下达日期
- 2015-08-18
- 中国标准分类号
- G04
- 国际标准分类号
- 71.040.40
- 归口单位
- 全国微束分析标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分会
- 主管部门
- 国家标准化管理委员会
3起草单位
4采标情况
本标准等同采用ISO国际标准：ISO 13424:2013。
采标中文名称:表面化学分析 X射线光电子能谱 薄膜分析结果的报告。
5投票情况
- 投票日期
- 2017-12-25~2018-01-22
- 通过率
- 90.91%
6相近标准（计划）
GB/T 30704-2014 表面化学分析 X射线光电子能谱 分析指南- GB/Z 32490-2016 表面化学分析 X射线光电子能谱 确定本底的程序
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