Surface chemical analysis—X-ray photoelectron spectroscopy—Procedures for determining backgrounds
国家标准《表面化学分析 X射线光电子能谱 确定本底的程序》由TC38(全国微束分析标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为国家标准化管理委员会。
主要起草单位 清华大学 、中山大学 。
主要起草人 李展平 、陈建 、姚文清 、谢方艳 、曹立礼 、朱永法 。
20151802-T-469 表面化学分析 X射线光电子能谱 薄膜分析结果的报告
GB/T 30704-2014 表面化学分析 X射线光电子能谱 分析指南
GB/T 28632-2012 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率测定
GB/T 33502-2017 表面化学分析 X射线光电子能谱(XPS)数据记录与报告的规范要求
GB/T 22571-2017 表面化学分析 X射线光电子能谱仪 能量标尺的校准
GB/T 28633-2012 表面化学分析 X射线光电子能谱 强度标的重复性和一致性
GB/T 28892-2012 表面化学分析 X射线光电子能谱 选择仪器性能参数的表述
GB/T 25185-2010 表面化学分析 X射线光电子能谱 - 荷电控制和荷电校正方法的报告
GB/T 29556-2013 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率、分析面积和分析器所能检测到的样品面积的测定
GB/T 19500-2004 X-射线光电子能谱分析方法通则