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蓝宝石衬底片厚度及厚度变化测试方法

Standard test method for thickness and thickness variation on sapphire substrates

国家标准 推荐性 现行

国家标准《蓝宝石衬底片厚度及厚度变化测试方法》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为国家标准化管理委员会。

主要起草单位 协鑫光电科技控股有限公司中国科学院上海光机所浙江昀丰新能源科技有限公司

主要起草人 魏明德黄朝晖刘逸枫杭寅徐永亮

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