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硅单晶中碳、氧含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法

Test method for carbon and oxygen content of single crystal silicon—Low temperature fourier transform infrared spectrometry

国家标准 推荐性 即将实施

国家标准《硅单晶中碳、氧含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为国家标准化管理委员会。

主要起草单位 昆明冶研新材料股份有限公司江苏中能硅业科技发展有限公司宜昌南玻硅材料有限公司新特能源股份有限公司亚洲硅业(青海)有限公司青海黄河上游水电开发有限责任公司新能源分公司陕西天宏硅材料有限责任公司

主要起草人 张云晖韩小月毛智慧赵建为刘晓霞王桃霞田洪先刘明军银波刘国霞蔡延国秦榕童孟钱津旺杨红燕

目录

1标准状态

  • 发布于2017-12-29
  • 执行于2018-07-01
  • 废止于

2基础信息

标准号
GB/T 35306-2017
发布日期
2017-12-29
实施日期
2018-07-01
中国标准分类号
H17
国际标准分类号
77.040
归口单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
执行单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
主管部门
国家标准化管理委员会

3起草单位

4起草人

5相近标准(计划)

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