Test method for low temperature FT-IR analysis of single crystal silicon for Ⅲ-Ⅴ impurities
国家标准《低温傅立叶变换红外光谱法测量硅单晶中III、V族杂质含量的测试方法》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为国家标准化管理委员会。
主要起草单位 四川新光硅业科技有限责任公司 。
主要起草人 梁洪 、过惠芬 、吴道荣 。
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