电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分：介电常数和介质损耗角正切值的测试方法
Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components and device—Part 4: Test method for permittivity and dielectric loss angle tangent value
国家标准《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分：介电常数和介质损耗角正切值的测试方法》由339-1（工业和信息化部（电子））归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。
主要起草单位 中国电子科技集团公司第十二研究所 、中国电子技术标准化研究院 、北京七星飞行电子有限公司 。
主要起草人 曾桂生 、李晓英 、薛晓梅 。
目录
1标准状态
- 发布于2015-05-15
- 执行于2016-01-01
- 废止于
2基础信息
- 标准号
- GB/T 5594.4-2015
- 发布日期
- 2015-05-15
- 实施日期
- 2016-01-01
- 全部代替标准
- GB/T 5594.4-1985
- 中国标准分类号
- L90
- 国际标准分类号
- 31-030
- 归口单位
- 工业和信息化部（电子）
- 执行单位
- 工业和信息化部（电子）
- 主管部门
- 工业和信息化部（电子）
3起草单位
4起草人
5相近标准（计划）
GB/T 11297.9-2015 热释电材料介质损耗角正切tanδ的测试方法- GB/T 1693-2007 硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法
- GB/T 5594.1-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法
- GB/T 5593-2015 电子元器件结构陶瓷材料
- GB/T 5594.6-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第6部分：化学稳定性测试方法
- GB/T 5594.3-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第3部分：平均线膨胀系数测试方法
- GB/T 5594.2-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量、泊松比测试方法
- GB/T 5594.5-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法
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