Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components and device—Part 3: Test method for mean coefficient of linear expansion
国家标准《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第3部分:平均线膨胀系数测试方法》由339-1(工业和信息化部(电子))归口上报及执行,主管部门为工业和信息化部(电子)。
主要起草单位 中国电子科技集团公司第十二研究所 、河南济源兄弟材料有限公司 、浙江温岭特种陶瓷厂 。
主要起草人 高陇桥 、黄国立 、胡菊飞 。
GB/T 5594.1-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法
QB/T 1321-2012 陶瓷材料平均线热膨胀系数测定方法
GB/T 5593-2015 电子元器件结构陶瓷材料
GB/T 2572-2005 纤维增强塑料平均线膨胀系数试验方法
GB/T 5594.6-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第6部分:化学稳定性测试方法
GB/T 5594.2-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量、泊松比测试方法
GB/T 5594.5-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法
GB/T 5594.8-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分:显微结构的测定方法
GB/T 5594.7-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第7部分:透液性测定方法
GB/T 25144-2010 搪玻璃釉平均线热膨胀系数的测定方法