太阳能电池用硅片厚度及总厚度变化测试方法
Test method for thickness and total thickness variation of silicon wafers for solar cell
国家标准《太阳能电池用硅片厚度及总厚度变化测试方法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为国家标准化管理委员会。
主要起草单位 东方电气集团峨嵋半导体材料有限公司 、有研半导体材料股份有限公司 、乐山新天源太阳能科技有限公司 、青洋电子材料有限公司 。
主要起草人 何紫军 、冯地直 、程宇 、黎阳 、陈琳 、荆旭华 、刘卓 。
目录
1标准状态
- 发布于2014-07-24
- 执行于2015-02-01
- 废止于
2基础信息
- 标准号
- GB/T 30869-2014
- 发布日期
- 2014-07-24
- 实施日期
- 2015-02-01
- 中国标准分类号
- H21
- 国际标准分类号
- 77.040
- 归口单位
- 全国半导体设备和材料标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国半导体设备和材料标准化技术委员会
- 主管部门
- 国家标准化管理委员会
3起草单位
4起草人
5相近标准（计划）
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