太阳能电池用硅片翘曲度和波纹度测试方法
Test method for warp and waviness of silicon wafers for solar cells
国家标准《太阳能电池用硅片翘曲度和波纹度测试方法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为国家标准化管理委员会。
主要起草单位 江苏协鑫硅材料科技发展有限公司 、瑟米莱伯贸易（上海）有限公司 、有研半导体材料股份有限公司 。
主要起草人 薛抗美 、夏根平 、孙燕 、林清香 、徐自亮 、黄黎 。
目录
1标准状态
- 发布于2014-07-24
- 执行于2015-04-01
- 废止于
2基础信息
- 标准号
- GB/T 30859-2014
- 发布日期
- 2014-07-24
- 实施日期
- 2015-04-01
- 中国标准分类号
- H21
- 国际标准分类号
- 77.040
- 归口单位
- 全国半导体设备和材料标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国半导体设备和材料标准化技术委员会
- 主管部门
- 国家标准化管理委员会
3起草单位
4起草人
5相近标准（计划）
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