电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第4部分:动态应力试验
Electromechanical components for electronic equipment--Basic testing procedures and measuring methods--Part 4:Dynamic stress tests
国家标准《电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第4部分:动态应力试验》由TC166（全国电子设备用机电元件标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。
主要起草单位 电子工业部标准化研究所 。
目录
1标准状态
- 发布于1997-12-26
- 执行于1998-10-01
- 废止于
2基础信息
- 标准号
- GB/T 5095.4-1997
- 发布日期
- 1997-12-26
- 实施日期
- 1998-10-01
- 全部代替标准
- GB/T 5095.4-1986
- 中国标准分类号
- L23
- 国际标准分类号
- 31.220
- 归口单位
- 全国电子设备用机电元件标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国电子设备用机电元件标准化技术委员会
- 主管部门
- 工业和信息化部（电子）
3起草单位
4起草人
5相近标准（计划）
GB/T 5095.1-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第1部分:总则- 20061447-T-339 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第11-1部分：气候试验 试验11a：气候序列
- 20061455-T-339 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第11-8部分：气候试验 试验11h：沙尘
- GB/T 5095.6-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第6部分:气候试验和锡焊试验
- GB/T 5095.7-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第7部分:机械操作试验和密封性试验
- 20121230-T-339 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-4部分：试验25d：传输时延
- 20121231-T-339 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-5部分：试验25e：回波损耗
- 20121232-T-339 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-6部分：试验25f：眼图和抖动
- 20121234-T-339 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法第25-2部分：试验25b：衰减（插入损耗）
- 20121228-T-339 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-1部分：试验25a：串扰比
