电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法第25-2部分：试验25b：衰减（插入损耗）
Electromechanical components for electronic equipment－Basic testing procedures and measuring methods－Part 25-2: Test 25b: Attenuation (insertion loss)
国家标准计划《电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法第25-2部分：试验25b：衰减（插入损耗）》由TC166（全国电子设备用机电元件标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。
主要起草单位 四川华丰企业集团有限公司 、中国电子技术标准化研究院 。
主要起草人 庞斌 、朱茗 、肖淼 、刘俊 、汪其龙 。
目录
1项目进度
- 网上公示
- 起草
- 征求意见
- 审查
- 批准
- 发布
2基础信息
- 计划号
- 20121234-T-339
- 制修订
- 制订
- 项目周期
- 12个月
- 下达日期
- 2013-02-18
- 中国标准分类号
- L23
- 国际标准分类号
- 31.220.10
- 归口单位
- 全国电子设备用机电元件标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国电子设备用机电元件标准化技术委员会
- 主管部门
- 工业和信息化部（电子）
3起草单位
4采标情况
本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60512-25-2：2002。
采标中文名称:电子设备用连接器 试验和测量 第25-2部分 试验25b：衰减（插入损耗）。
5投票情况
- 投票日期
- 2017-10-30~2017-11-06
- 通过率
- 96.97%
6相近标准（计划）
20121231-T-339 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-5部分：试验25e：回波损耗- GB/T 5095.1-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第1部分:总则
- 20121230-T-339 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-4部分：试验25d：传输时延
- 20121232-T-339 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-6部分：试验25f：眼图和抖动
- 20121228-T-339 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-1部分：试验25a：串扰比
- 20061447-T-339 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第11-1部分：气候试验 试验11a：气候序列
- 20061455-T-339 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第11-8部分：气候试验 试验11h：沙尘
- GB/T 5095.6-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第6部分:气候试验和锡焊试验
- GB/T 5095.7-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第7部分:机械操作试验和密封性试验
- GB/T 5095.3-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第3部分:载流容量试验
