砷化镓单晶AB微缺陷检验方法
The inspecting method of AB microscopic defect in gallium arsenide single crystal
国家标准《砷化镓单晶AB微缺陷检验方法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为国家标准化管理委员会。
主要起草单位 北京有色金属研究总院 。
目录
1标准状态
- 发布于2000-04-03
- 执行于2000-09-01
- 废止于
2基础信息
- 标准号
- GB/T 18032-2000
- 发布日期
- 2000-04-03
- 实施日期
- 2000-09-01
- 中国标准分类号
- H24
- 国际标准分类号
- 77.040.01
- 归口单位
- 全国半导体设备和材料标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国半导体设备和材料标准化技术委员会
- 主管部门
- 国家标准化管理委员会
北京有色金属研究总院