厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定
Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics--Determination of fineness
国家标准《厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定》由TC243（全国有色金属标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为中国有色金属工业协会。
主要起草单位 昆明贵金属研究所 。
目录
1标准状态
- 发布于1998-08-19
- 执行于1999-03-01
- 废止于2008-09-01
2基础信息
- 标准号
- GB/T 17473.2-1998
- 发布日期
- 1998-08-19
- 实施日期
- 1999-03-01
- 废止日期
- 2008-09-01
- 中国标准分类号
- H21
- 国际标准分类号
- 77.040.01
- 归口单位
- 全国有色金属标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国有色金属标准化技术委员会
- 主管部门
- 中国有色金属工业协会
3起草单位
4起草人
5相近标准（计划）
GB/T 17473.2-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定- GB/T 17473.1-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定
- GB/T 17473.6-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法 分辨率测定
- GB/T 17473.3-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定
- GB/T 17473.5-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法 粘度测定
- GB/T 17473.7-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法 可焊性、耐焊性测定
- GB/T 17473.4-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法 附着力测定
- GB/T 17472-2008 微电子技术用贵金属浆料规范
- GB/T 1423-1996 贵金属及其合金密度的测试方法
- YS/T 614-2006 银钯厚膜导体浆料
