负责专业范围为精密测量技术、光学干涉计量。
擅长专业为光学干涉计量,特别是在光学检验、精密机加检验、半导体晶片、太阳能硅片、微米/纳米级MEMS检测技术和纳米级薄膜检验等方面有一定的研究。
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