Test methods for flip chip integrated circuits
国家标准《集成电路倒装焊试验方法》由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口上报,TC78SC2(全国半导体器件标准化技术委员会半导体集成电路分会)执行,主管部门为工业和信息化部(电子)。
主要起草单位 中国航天科技集团公司第九研究院第七七二所 。
主要起草人 林鹏荣 、谢东 、黄颖卓 、姜学明 、文惠东 、吕晓瑞 、姚全斌 、练滨浩 、林建京 、何卫 、高硕 、张威 。
20154245-T-339 集成电路 焊柱阵列试验方法
SJ/T 11512-2015 集成电路用 电子浆料性能试验方法
GB/T 9178-1988 集成电路术语
GB/T 12842-1991 膜集成电路和混合膜集成电路术语
GB/T 13062-1991 膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(可供认证用)
GB/T 20515-2006 半导体器件 集成电路 第5部分:半定制集成电路
GB/T 8976-1996 膜集成电路和混合膜集成电路总规范
GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
GB/T 15138-1994 膜集成电路和混合集成电路外形尺寸
GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路