半导体照明设备和系统的光辐射安全测试方法
Measuring methods of optical radiation safety for semiconductor lighting equipments and systems
国家标准《半导体照明设备和系统的光辐射安全测试方法》由TC284（全国光辐射安全和激光设备标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为中国机械工业联合会。
主要起草单位 杭州浙大三色仪器有限公司 、浙江三色光电技术有限公司 、中国科学院光电研究院 、中国电子科技集团公司第十一研究所 、中山市古镇镇生产力促进中心 、濮阳市质量技术监督检验测试中心 。
主要起草人 乔波 、牟同升 、吴爱平 、孙殿中 、戚燕 、杨国政 、赵洪涛 。
目录
1标准状态
- 发布于2018-03-15
- 执行于2018-10-01
- 废止于
2基础信息
- 标准号
- GB/T 36005-2018
- 发布日期
- 2018-03-15
- 实施日期
- 2018-10-01
- 中国标准分类号
- L51
- 国际标准分类号
- 31.260
- 归口单位
- 全国光辐射安全和激光设备标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国光辐射安全和激光设备标准化技术委员会
- 主管部门
- 中国机械工业联合会
3起草单位
4起草人
5相近标准（计划）
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