半导体发光二极管芯片
地方标准《半导体发光二极管芯片》由福建省信息化局归口上报，主管部门为福建省质量技术监督局。
主要起草单位 国家半导体发光器件（LED)应用产品质量监督检验中心 、厦门市产品质量监督检验院 、厦门市三安光电科技有限公司 、厦门市标准化协会 。
主要起草人 刘毅清 、葛莉荭 、梁奋 、陈晓玲 、蔡伟智 、傅诺毅 、庄鹏 、庄庆瑞 、田力军 、李仲超 。
目录
1标准状态
- 发布于2011-10-28
- 执行于2012-02-15
- 废止于
2基础信息
- 标准号
- DB35/T 1193-2011
- 发布日期
- 2011-10-28
- 实施日期
- 2012-02-15
- 中国标准分类号
- L53
- 国际标准分类号
- 31.260
- 归口单位
- 福建省信息化局
- 主管部门
- 福建省质量技术监督局
- 行业分类
- 信息传输、软件和信息技术服务业
3备案信息
备案号：34421-2012。
备案公告： 2013年第2号 。
4适用范围
本标准规定了半导体发光二极管芯片产品（以下简称芯片）的术语和定义、技术要求、试验方法、检验规则、包装、贮存和运输。 本标准适用于可见光半导体发光二极管芯片。紫外光和红外光半导体发光二极管芯片以及外延片的测试可参考执行
5起草单位
6起草人
7相近标准（计划）
20151775-T-339 发光二极管芯片点测方法- DB35/T 1370-2013 发光二极管芯片点测方法
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