光学晶体透过率测量方法
行业标准《光学晶体透过率测量方法》，主管部门为国家机械工业局。
目录
1标准状态
- 发布于2000-01-01
- 执行于1999-08-06
- 废止于
2基础信息
- 标准号
- JB/T 9495.3-1999
- 发布日期
- 1999-08-06
- 实施日期
- 2000-01-01
- 全部代替标准
- ZB N05 001.3-1985
- 主管部门
- 国家机械工业局
- 行业分类
- 无
3备案信息
备案号：6204-2000。
4相近标准（计划）
JB/T 9495.7-1999 光学晶体光学均匀性测量方法- GB/T 11297.12-2012 光学晶体消光比的测量方法
- JB/T 9495.2-1999 光学晶体折射率测量方法
- JB/T 9495.4-1999 光学晶体应力双折射测量方法
- JB/T 9495.6-1999 光学晶体光吸收系数测量方法
- JB/T 9495.5-1999 光学晶体散射颗粒度测量方法
- HG/T 5077-2016 光学功能薄膜 近红外光谱透过率的测量方法
- 20173471-T-609 单轴晶光学晶体的折射率测量方法
- GB/T 35118-2017 掺铒钇铝石榴石激光晶体光学性能测量方法
- GB/T 10988-2009 光学系统杂(散)光测量方法
