电子陶瓷用二氧化锆中杂质的发射光谱分析方法
行业标准《电子陶瓷用二氧化锆中杂质的发射光谱分析方法》，主管部门为电子工业部。
目录
1标准状态
- 发布于1994-12-01
- 执行于1994-08-08
- 废止于
2基础信息
- 标准号
- SJ/T 10553-1994
- 发布日期
- 1994-08-08
- 实施日期
- 1994-12-01
- 主管部门
- 电子工业部
- 行业分类
- 无
3备案信息
备案号：0046-1995。
4相近标准（计划）
SJ/T 10551-1994 电子陶瓷用三氧化二铝中杂质的发射光谱分析方法- SJ/T 10552-1994 电子陶瓷用二氧化钛中杂质的发射光谱分析方法
- SJ/T 11136-1997 电子陶瓷二氧化锆材料
- YS/T 362-2006 纯钯中杂质元素的发射光谱分析
- YS/T 365-2006 高纯铂中杂质元素的发射光谱分析
- YS/T 361-2006 纯铂中杂质元素的发射光谱分析
- YS/T 364-2006 纯铱中杂质元素的发射光谱分析
- YS/T 363-2006 纯铑中杂质元素的发射光谱分析
- SJ/T 10626-1995 键合金丝中微量杂质的ICP发射光谱分析方法
- GB/T 7999-2015 铝及铝合金光电直读发射光谱分析方法
