电子设备用可变电容器的试验方法
Methods of test of variable capacitors in electronic equipment
国家标准《电子设备用可变电容器的试验方法》由TC165（全国电子设备用阻容元件标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。
主要起草单位 国营八九七厂 。
目录
1标准状态
- 发布于1984-02-27
- 执行于1984-12-01
- 废止于
2基础信息
- 标准号
- GB/T 4166-1984
- 发布日期
- 1984-02-27
- 实施日期
- 1984-12-01
- 中国标准分类号
- L11
- 国际标准分类号
- 31.060.60
- 归口单位
- 全国电子设备用阻容元件标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国电子设备用阻容元件标准化技术委员会
- 主管部门
- 工业和信息化部（电子）
3起草单位
4起草人
5相近标准（计划）
GB/T 6253-1986 电子设备用B类微调可变电容器类型规范- GB/T 11302-1989 电子设备用B 类微调可变电容器空白详细规范
- GB/T 11303-1989 电子设备用C 类预调可变电容器空白详细规范
- GB/T 6254-1986 电子设备用C类预调可变电容器类型规范
- GB/T 6252-1986 电子设备用A类调谐可变电容器类型规范
- GB/T 11300-1989 电子设备用A 类调谐可变电容器空白详细规范
- GB/T 12775-1991 电子设备用圆片型瓷介预调可变电容器总规范
- GB/T 11301-1989 电子设备用装有整体C 类预调电容器的A 类调谐可变电容器空白详细规范
- SJ/T 10648-1995 薄膜介质调谐可变电容器结构型式及尺寸
- SJ/T 10284-1991 CBM-443BF型调频调幅四联薄膜介质调谐可变电容器
