硅的仪器中子活化分析测试方法
Test method for instrumental neutron activation analysis (INAA) of silicon
国家标准《硅的仪器中子活化分析测试方法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为国家标准化管理委员会。
主要起草单位 乐山乐电天威硅业科技有限责任公司 、中国原子能科学研究院 、新特能源股份有限公司 。
主要起草人 李智伟 、张亚东 、张新 、姚淑 、银波 、邱艳梅 。
目录
1标准状态
- 发布于2015-12-10
- 执行于2017-01-01
- 废止于
2基础信息
- 标准号
- GB/T 32277-2015
- 发布日期
- 2015-12-10
- 实施日期
- 2017-01-01
- 中国标准分类号
- H17
- 国际标准分类号
- 29.045
- 归口单位
- 全国半导体设备和材料标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国半导体设备和材料标准化技术委员会
- 主管部门
- 国家标准化管理委员会
乐山乐电天威硅业科技有限责任公司