半导体激光器测试方法
Test methods of semiconductor lasers
国家标准《半导体激光器测试方法》由TC284（全国光辐射安全和激光设备标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为中国机械工业联合会。
主要起草单位 西安炬光科技有限公司 、中国科学院西安光学精密机械研究所 、中国科学院半导体研究所 、北京国科世纪激光技术有限公司 、武汉华工正源光子技术有限公司 、中国电子科技集团公司第十三研究所 。
主要起草人 刘兴胜 、赵卫 、许国栋 、张艳春 、杨军红 、马晓宇等 。
目录
1标准状态
- 发布于2015-02-04
- 执行于2015-08-01
- 废止于
2基础信息
- 标准号
- GB/T 31359-2015
- 发布日期
- 2015-02-04
- 实施日期
- 2015-08-01
- 中国标准分类号
- L51
- 国际标准分类号
- 31.260
- 归口单位
- 全国光辐射安全和激光设备标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国光辐射安全和激光设备标准化技术委员会
- 主管部门
- 中国机械工业联合会
3起草单位
4起草人
5相近标准（计划）
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