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工业硅化学分析方法 第5部分:杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法

Methods for chemical analysis of silicon metal―Part 5:Determination of impurity contents―X-ray fluorescence method

国家标准 推荐性 现行

国家标准《工业硅化学分析方法 第5部分:杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法》由TC243(全国有色金属标准化技术委员会)归口上报,TC243SC1(全国有色金属标准化技术委员会轻金属分会)执行,主管部门为中国有色金属工业协会。

主要起草单位 昆明冶金研究院中国铝业股份有限公司山东分公司云南永昌硅业股份有限公司中国铝业股份有限公司郑州研究院通标标准技术服务有限公司包头铝业有限公司蓝星硅材料有限公司昆明冶研新材料股份有限公司云南出入境检验检疫局

主要起草人 刘英波赵德平杨海岸周杰杨毅等

目录

1标准状态

  • 发布于2014-12-05
  • 执行于2015-05-01
  • 废止于

2基础信息

标准号
GB/T 14849.5-2014
发布日期
2014-12-05
实施日期
2015-05-01
全部代替标准
GB/T 14849.5-2010
中国标准分类号
H12
国际标准分类号
77.120.10
归口单位
全国有色金属标准化技术委员会
执行单位
全国有色金属标准化技术委员会
主管部门
中国有色金属工业协会

3起草单位

4起草人

5相近标准(计划)

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