半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法
Measurement procedures for semiconductor X-ray detector system and semiconductor X-ray energyspectrometers
国家标准《半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法》由TC30（全国核仪器仪表标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为国家标准化管理委员会。
主要起草单位 核工业标准化研究所 。
目录
1标准状态
- 发布于2003-07-07
- 执行于2004-01-01
- 废止于
2基础信息
- 标准号
- GB/T 11685-2003
- 发布日期
- 2003-07-07
- 实施日期
- 2004-01-01
- 全部代替标准
- GB/T 11685-1989,GB/T 8992-1988
- 中国标准分类号
- F80
- 国际标准分类号
- 27.120.01
- 归口单位
- 全国核仪器仪表标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国核仪器仪表标准化技术委员会
- 主管部门
- 国家标准化管理委员会
3起草单位
4起草人
5相近标准（计划）
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