纳米薄膜接触角测量方法
Measurement method for contact angle of nano-film surface
国家标准《纳米薄膜接触角测量方法》由TC279（全国纳米技术标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为中国科学院。
主要起草单位 中国建筑材料科学研究总院 、中国建材检验认证集团股份有限公司 、宣城晶瑞新材料有限公司 、北京中科赛纳（玻璃）技术有限公司 、冶金工业信息标准研究院 。
主要起草人 庞世红 、张继军 、韩松 、戴石锋 、徐进 、张珩等 。
目录
1标准状态
- 发布于2013-12-31
- 执行于2014-10-01
- 废止于
2基础信息
- 标准号
- GB/T 30447-2013
- 发布日期
- 2013-12-31
- 实施日期
- 2014-10-01
- 中国标准分类号
- Q34
- 国际标准分类号
- 81.040.10
- 归口单位
- 全国纳米技术标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国纳米技术标准化技术委员会
- 主管部门
- 中国科学院
3起草单位
4起草人
5相近标准（计划）
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