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声表面波（SAW）器件用单晶晶片规范与测量方法

Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications―Specifications and measuring methods

国家标准 推荐性 现行

国家标准《声表面波（SAW）器件用单晶晶片规范与测量方法》由TC182（全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位 中国电子科技集团公司第二十六研究所 、中国电子科技集团德清华莹电子有限公司 、北京石晶光电科技有限公司 。

主要起草人 张小梅 、蒋春键 、吴兆刚 、吴剑波 、赵雄章 、周洋舟 。

目录

1标准状态

  • 发布于2013-12-17
  • 执行于2014-05-15
  • 废止于

2基础信息

标准号
GB/T 30118-2013
发布日期
2013-12-17
实施日期
2014-05-15
中国标准分类号
L21
国际标准分类号
31.140
归口单位
全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会
执行单位
全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会
主管部门
工业和信息化部（电子）

3起草单位

4起草人

张小梅 蒋春键 赵雄章 周洋舟 吴兆刚 吴剑波

5相近标准（计划）

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